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更新日期:2025-03-11
簡要描述:
日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1微型硬嵌套星MHT-1可以通過更改測量階段來調(diào)節(jié)40-400μm。*這是一種用于細(xì)顆粒的自動(dòng)壓縮測試設(shè)備。當(dāng)粒子用凹痕器施加載荷以確定壓碎強(qiáng)度時(shí),該設(shè)備可測量峰負(fù)荷和粒徑。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷解散曲線記錄了從壓縮到分解的過程。
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
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日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1
微型硬嵌套星MHT-1可以通過更改測量階段來調(diào)節(jié)40-400μm。*這是一種用于細(xì)顆粒的自動(dòng)壓縮測試設(shè)備。當(dāng)粒子用凹痕器施加載荷以確定壓碎強(qiáng)度時(shí),該設(shè)備可測量峰負(fù)荷和粒徑。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷解散曲線記錄了從壓縮到分解的過程。通過從測量結(jié)果中選擇任何粒子,您可以看到具有負(fù)載位移曲線和連續(xù)圖像的斷裂過程。
*根據(jù)規(guī)格,目標(biāo)顆粒直徑可能為40-120μm或50-400μm。
對于粒子測量200-1500μm,可以使用 更好的硬度測試儀BHT-1000(全自動(dòng)粉末和谷物壓縮測試儀) 。
日本betterseishin粒子壓縮硬度測試儀MHT-1
規(guī)范列表 | MHT-1 | MHT-1W(高分辨率) |
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測量方法 | 恒定加載方法 | |
測量項(xiàng)目 | 高度顆粒直徑,峰負(fù)荷,位移,壓碎強(qiáng)度,破裂強(qiáng)度,變形強(qiáng)度 | |
靶顆粒直徑 | 50-400μm (手動(dòng)測量1毫米) *需要階段變化 | 40-120μm |
下降速度 | 從1.0到10μm/sec中選擇 | 從0.01到10μm/sec |
測量的顆粒數(shù) | 每個(gè)樣品最多500片 | |
負(fù)載電池 測試能力 | 1N(最小顯示0.01MN) 也可以更改為5N,10N和20N (可選) | 1N(最小顯示0.01mn) 5N也可以更改 (可選) |
相機(jī) | 從CMOS USB攝像機(jī)選擇: 480 x 270,130,000像素,640 x 360,230,000像素,960 x 540,520,000像素, 1920 x 1080,207億像素 | |
身體尺寸 | W450 x D460 x H400毫米 *包括突起 | |
體重 | 約25公斤 | 約26公斤 |
公用事業(yè) | AC100V 50/60Hz 2a | |
其他的 | 縮進(jìn)器:φ0.45mm直徑直(前端表面處理) LED燈,防塵蓋,校準(zhǔn)銅 |