日本富士fujiwork薄膜測(cè)厚儀型號(hào)及用途介紹

發(fā)布日期：2021-11-17      瀏覽次數(shù)：1575

日本富士fujiwork薄膜測(cè)厚儀型號(hào)及用途介紹

標(biāo)準(zhǔn)型/薄膜型

薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-A200 / FT-A200R



配備高精度測(cè)量頭和放大器單元的高duan機(jī)器。
只需設(shè)置從生產(chǎn)線(xiàn)上切下的薄膜，您就可以輕松地連續(xù)測(cè)量厚度。

FT-A200 測(cè)量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測(cè)量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測(cè)量分辨率/ 0.01 μm

帶內(nèi)置顯示器的緊湊型


薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-D200



帶有內(nèi)置顯示屏的一體式緊湊型機(jī)器。
輸送功能得到進(jìn)一步提升，可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的連續(xù)測(cè)厚。

測(cè)量范圍 10 μm 至 500 μm
測(cè)量分辨率 / 0.1 μm




薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-D100NL


一體成型機(jī)的進(jìn)化版。
只需設(shè)置薄膜，您就可以在沒(méi)有引線(xiàn)的情況下從jian端測(cè)量厚度。

測(cè)量范圍 20 μm 至 500 μm
測(cè)量分辨率/0.1 μm

HKT-1216


一種通過(guò)保持測(cè)量頭下降速度恒定來(lái)消除測(cè)量者測(cè)量變化的測(cè)量?jī)x器。
對(duì)超薄膜進(jìn)行舒適準(zhǔn)確的測(cè)量。

測(cè)量分辨率 0.01 μm
測(cè)量范圍 200 μm
Stylus R30 硬質(zhì)合金球面

HKT-1200


也可使用電池的緊湊型厚度測(cè)量?jī)x。
一種通過(guò)保持測(cè)量頭下降速度恒定來(lái)消除測(cè)量者測(cè)量變化的測(cè)量?jī)x器。

測(cè)量分辨率 0.1 μm
測(cè)量范圍 500 μm
Mushroom R30 硬質(zhì)合金球面

HKT-1216L


當(dāng)測(cè)量對(duì)象較大時(shí)推薦使用此方法。
是HKT-1216的大舞臺(tái)版。
* 測(cè)量臺(tái)以外的產(chǎn)品規(guī)格與HKT-1216相同。

測(cè)量臺(tái) 石材平臺(tái)類(lèi)型
尺寸約長(zhǎng)200 mm x 寬 150 mm x 高 300 mm

HKT-1200L


當(dāng)測(cè)量對(duì)象較大時(shí)推薦使用此方法。
是HKT-1200的大舞臺(tái)版。
* 測(cè)量臺(tái)以外的產(chǎn)品規(guī)格與HKT-1200相同。

測(cè)量臺(tái) 石材平臺(tái)類(lèi)型
尺寸約長(zhǎng)200 mm x 寬 150 mm x 高 300 mm




HKT-Lite0.1


無(wú)繩和輕便的固定式測(cè)量?jī)x器。
即使在沒(méi)有電源的地方，您也可以輕松測(cè)量 0.1 μm。一種保持測(cè)量頭下降速度恒定并消除測(cè)量偏差的測(cè)量?jī)x器。

測(cè)量分辨率 0.1 μm
測(cè)量范圍 8 mm

HKT-Lite 1.0


無(wú)繩和輕便的固定式測(cè)量?jī)x器。此外，實(shí)現(xiàn)了低價(jià)格。
一種保持測(cè)量頭下降速度恒定并消除測(cè)量偏差的測(cè)量?jī)x器。

測(cè)量分辨率 1 μm
測(cè)量范圍 8 mm