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產(chǎn)品展示
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日本napson手持式探針的手動(dòng)無(wú)損(渦流法)電阻測(cè)量?jī)xEC-80P

  • 發(fā)布日期:2020-12-03      瀏覽次數(shù):1055
    • 日本napson手持式探針的手動(dòng)無(wú)損(渦流法)電阻測(cè)量?jī)xEC-80P

      產(chǎn)品特點(diǎn)

      • 只需觸摸手持式探頭即可測(cè)量電阻。
      • 在電阻/薄層電阻測(cè)量模式之間輕松切換
      • 使用JOG撥盤輕松設(shè)置測(cè)量條件
      • 連接到連接器的可替換電阻測(cè)量探頭可支持多種電阻
      • (電阻探頭:z多可以使用2 + PN判斷探頭)

      測(cè)量規(guī)格

      測(cè)量目標(biāo)

      半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料相關(guān)(硅,多晶硅,SiC等)
      新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)
      導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
      硅基外延,離子與
      半導(dǎo)體相關(guān)的注入樣品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
      其他(*請(qǐng)與我們聯(lián)xi)

      測(cè)量尺寸

      無(wú)論樣品的大小和形狀如何均可進(jìn)行測(cè)量(但是,大于20mmφ且具有平坦的表面)

      測(cè)量范圍

      [電阻] 1m至200Ω·cm
      (*所有探頭類型的總范圍/厚度500um)
      [板電阻] 10m至3kΩ / sq
      (*所有探頭類型的總范圍)

      *有關(guān)每種探頭類型的測(cè)量范圍,請(qǐng)參閱以下內(nèi)容。
      (1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至0.05Ω-cm)
      (2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
      (3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-??cm)
      (4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)
      (5)太陽(yáng)能晶片:5至500Ω/□(0。 2至15Ω-cm)

       

    聯(lián)系方式
    • 電話

    • 傳真

    在線交流