利用磁光效應可視化磁場技術

發(fā)布日期：2022-12-29      瀏覽次數(shù)：652

利用磁光效應可視化磁場技術

使用磁光效應可視化磁場的簡單方法是在光源和樣品前后放置兩個偏振器，如圖 2 所示。



這兩個偏振器通常稱為樣品前面的偏振器和后面的檢偏器。使用法拉第旋轉角、偏振器角度和分析器角度確定通過樣品和分析器的光強度

                

表示為

圖 3 是繪制了當偏振器角度為 0 度時光強度與分析器角度的關系圖。當偏振器和檢偏器之間的角度設置為 90 度時，即正交條件，光強度取局部最小值。此時，當偏振面因法拉第效應而旋轉時，透射光的強度增加。因此，在觀察磁疇時，將檢偏器的角度從90度偏移數(shù)度，即可得到法拉第轉角的正負，作為明暗對比。



這種方法被稱為正交檢偏器法，因為起偏器和檢偏器幾乎成90度。在測量橢圓率時，使用所謂的磁圓二色性，它對順時針和逆時針旋轉具有不同的吸收。在這種情況下，簡單的光學系統(tǒng)是光源和圓偏振器（或偏振器和四分之一波片）。

以磁疇的觀察為例進行具體說明。圖 4 解釋了使用法拉第旋轉角和法拉第橢圓率的磁疇結構方法的原理。



在(a)的法拉第旋轉角的情況下，當入射直線偏振光時，偏振面根據(jù)磁疇的方向左右旋轉并透射。此時，如果將檢偏器配置為阻擋透過一個磁疇的光，則可以透過透過相反磁疇的光的偏振面。結果，可以通過明暗觀察磁疇的方向。

另一方面，當使用(b)的橢圓率時，當入射光為圓偏振時，磁疇被觀察為明暗對比，因為吸收取決于磁化方向而不同。在這種情況下，不需要分析器，如圖所示。然而，在這種狀態(tài)下，對比度通常較低，因為它僅測量吸收強度。因此，為了獲得高對比度，需要用左右圓偏振光獲取圖像并取差值。

一種利用磁光效應使磁場可視化的薄膜材料。我們有以下產(chǎn)品。



高殘留型是即使去除對MO成像板施加的磁場，可視化的磁場圖像也殘留的類型。